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已知整個高粱籽粒的結構特征會影響最終使用質量，但對該結構的傳統(tǒng)評估是二維的(即，籽粒的橫截面)。目前的技術為考慮谷物的三維結構特征提供了可能性。X射線計算機斷層成像(CT)提供了這樣一種機會，可以從谷粒穎果中無損地提取定量數(shù)據(jù)，然后這些數(shù)據(jù)可以與最終使用質量相關。


從籽粒高粱穎果的CT掃描中提取出表型測量值。胚體積、胚乳硬度、胚乳質地、胚乳體積、果皮體積和籽粒體積的表型變異較大。CT得出的估計值與地面實況測量有很強的相關性，從而能夠識別出具有優(yōu)越結構特征的基因型。

19個基因型的高粱籽粒結構CT估計值中與因子相關的百分比方差。復制指的是獨立的CT掃描，而行和列指的是CT機內的空間位置

本文提出了一種表型流水線，用于量化籽粒高粱穎果的三維結構特征，從而提高了以前難以測量的性狀的處理效率。將這一工作流程調整到其他小種子作物上是可能的，這為科學家以非破壞性的方式研究谷物提供了新的獨特機會，最終將導致最終使用質量的提高。

來源：Plant Methods.Application of X-ray computed tomography to analyze the structure of sorghum grain.Daniel Crozier, Oscar Riera-Lizarazu & William L. Rooney
https://plantmethods.biomedcentral.com/articles/10.1186/s13007-022-00837-7